電感耦合等離子體發射光譜儀Avio 200

Avio™ 200 系統能處理難度最高的、未經稀釋的高基體樣品，為ICP 帶來全新的性能及靈活性。

而且，前所未有的性能還帶來了無可比擬的易用性。獨特的硬件特性與業界最直觀易用的軟件相結合，使多元素測量變得與單元素分析一樣簡單。

作為市場上最小巧的 ICP，Avio 200 可通過以下性能，提供最高效的操作、最可靠的數據和最低的擁有成本：

• 所有 ICP 中最低的氬氣消耗
  
• 最快的 ICP 啟動（從關機狀態啟動，光譜儀在短短幾分鍾內即可準備就緒）
  
• 對所有適用的元素都具有出色的靈敏度與分辨率
  
• 具有雙向觀測技術的最寬線性範圍
  

性能可靠、功能強大、經濟實惠、Avio 200 具備您所尋求的 ICP所具有的一切。

既然可以成為開拓者，誰還願意當操作者？

Avio 200 ICP 專為滿足最具挑戰性的客戶需求並超越此類需求而設計，憑借一系列專有獨特的功能，可幫助您運行多個樣品，所取得的成本效益遠超以往任何時候。

最低的運行成本

借助獲得專利的 Flat Plate™ (平板) 等離子體技術，Avio 僅需消耗其他系統一半的氬氣量，即可生成強健、耐基體的等離子體，同時賦予您：

• 所有 ICP 中最低的操作成本
  
• 無需再進行與傳統螺旋負載線圈有關的冷卻和維護，提供出色的運行時間和生產力
  

另外，為了提高效率，珀金埃爾默儀器具有獲得專利的動態波長，穩定功能。可令您從關機狀態啟動，在短短幾分鍾內即可進行分析，因而您大可在儀器不使用時隨意關掉。

強大的雙向觀測功能

與提供軸向和徑向觀測而犧牲性能的同步垂直雙向觀測 ICP 系統不同，Avio 200 系統獲得專利的雙向觀測功能，可測量所有波長，不會造成光或靈敏度的損失。即使是波長大於 500 納米或低

於 200 納米的元素也完全可以測量，即便是在 ppb 的含量水平。該 Avio 系統獨特的雙向觀測設計也提供了可擴展的線性動態範圍，確保實現：

• 樣品製備和稀釋最小化
  
• 高、低濃度可以在同一運行中進行測量
  
• 更好的質量控製和更準確的結果
  
• 減少重複運行
  

集成等離子體觀測相機

可簡化您的開發方法，同時借助 Avio 200 系統的 PlasmaCam™技術，盡享遠程監控等離子體的便利。作為行業首創，彩色相機

可幫助您：

• 實時觀測等離子體
  
• 執行遠程診斷
  
• 查看進樣部件
  

革新性 PlasmaShear 系統，可實現無氬幹擾消除

為了消除軸向觀測的幹擾，需要消除等離子體的冷尾焰。沒有其他同類儀器能比 Avio 200 更有效、更可靠或更經濟。

其他 ICP 消除尾焰需要消耗高達 4 升/分鍾的氬氣流量，Avio系統獨特的 PlasmaShear™ 技術隻需空氣即可。無需高維護、高提取系統或錐體。就是一個完全集成的、完全自動化的、能提供無故障軸向分析的幹擾消除系統。

CCD 檢測器，可實現無與倫比的準確度和精密度

借助全波長功能，Avio 200 系統的強大電荷耦合器件（CCD）檢測器能不斷提供正確的答案。

Avio 系統的 CCD 檢測器可同時測量所選譜線及其譜線附近波長範圍，實時扣背景，實現出色的檢測精密度。在分析過程中，它還可以同時執行背景校正測量，進一步提高準確度和靈敏度。

帶有快速轉換炬管底座的垂直等離子體，可實現無與倫比的基體靈活性

即使 ICP 正在運行，Avio 200 系統的垂直炬管無需工具也能進行簡便快捷的調節，可提供更大的樣品靈活性並簡化維護。炬管底座的設計與眾不同，具有以下特點：

• 一個可拆卸的、獨立於炬管的中心管，旨在減少維護和破損的可能性
  
• 自動自對準，即使在拆卸後也能提供一緻的深度設置
  
• 兼容各種霧化器和霧室，可提高靈活性