赛默飞 Talos F200X S/TEM 透射电子显微镜

Talos F200X S/TEM

产品描述

Talos F200X 扫描 / 透射电子显微镜 (S/TEM) 具有最为快速、准确且量化 的多维纳米材料表征分析能力。Talos F200X S/TEM 的创新功能可提高通 量、精度与易用性，非常适于学校、 政府和工业研究环境中的纳米级研究 与分析。

高分辨率成像，获取更高质量的数据

Thermo ScientificTM TalosTM F200X S/TEM 融合了出色的高分辨 率 STEM 和 TEM 成像功能与行业领先的能谱仪 (EDS) 信号检 测功能及基于成分分析的三维化学表征功能。Thermo Scientific VeloxTM S/TEM 控制软件通过智能扫描引擎、基于多个 STEM 探 测器的四通道集成以及用于分辨样品磁畴、电畴分布的差分相位 衬度 (DPC) 成像，大幅改善了成像效果。可为 EDS 数据处理和 量化分析提供极高的速度和精确度。

X-FEG 高亮度电子枪可提供更高的总电流(最高为标准肖特基 FEG 电子束电流的五倍)，同时可维持较小的会聚角。您可以获 取 STEM、EDS 和高分辨率 TEM 应用所需的卓越的图像分辨率 和信噪比。X-FEG 不仅非常稳定，而且寿命很长，可实现出色的 成像效率。

视野更大，速度更快

Talos D/TEM 上的快速 TEM 成像支持高分辨率和原位 动态观察。 Thermo Scientific Ceta 16MTM 相机具有大视场并能够以 25 fps 的快速率捕捉图像，同时压电载物台可确保高灵敏度、无漂移成 像和精确样品导航，从而节约时间并允许您从每个样品中获取更 多数据。

加快纳米级分析以更快获取答案

Talos F200X S/TEM 包括获得专利的 Thermo Scientific Super-XTM、 集成四个硅漂移探测器 (SDD) 的 EDS 系统，可提供出色的灵敏 度和高达 105 光谱 / 秒的扫描能力。与 X-TWIN 物镜集成，可最 大限度提高收集效率，同时可实现给定电子束电流(甚至是低强 度 EDS 信号)的出色输出计数率。

更轻松地开展研究

凭借友好的数字用户界面和领先的人体工程学设计，Talos S/TEM 使成像和分析工作流程可为更多科学家所用。快速的图像 采集，加之易于使用的操作平台，即使是经验不足的操作者也能 够快速收集结果。人机分离的远程操作设计显著提高了易用性， 舒适性和电镜的稳定性。此外，为了确保维持工作效率，Talos S/TEM 配备了新型设备状态记录和诊断软件。该软件可收集主要 的仪器参数，有助于远程诊断和支持。

特点与用途

功能

• 领先的光学性能 :恒定功率 X-TWIN 物镜 
  
• 最大程度提高易用性:快速轻松的操作切换，适用于多用户环境 
  
• 超稳定平台 :恒定功率物镜、压电载物台、牢固的系统机壳和 远程操作可确保最高的稳定性 
  
• SmartCam 摄像头 :数字搜索和查看摄像头显著提高了操作便 利性，让使用者可以离开暗室进行远程操作。 
  
• 完全集成的快速相机 :Ceta 16M 像素 CMOS 相机可提供大视 场和高读取速度(512 x 512 时为 25 fps)
  
• 全面的远程操作 :自动光阑系统与 Ceta 相机相结合，支持全 面的远程操作 
  
• 丰富的分析功能 :Talos S/TEM 使用 EDS 立体成像技术将样品 成分分析功能从二维扩展至三维。 
  

产品参数

X-FEG 亮度       1.8 × 109 A/cm2 srad(200 kV 时)

总电子束电流     > 50nA

束斑电流       1.5 nA @ 1 nm 束斑 (200 kV)

Super-X EDS 系统    采用对称设计的 SDD 能谱探头， 无窗设计，受机械快门保护

能量分辨率  Mn-Kα 和 10 kcps 时 ≤ 136 eV (输出)

快速 EDS 面分析    像素驻留时间短至 10 μs

STEM HAADF 分辨率  0.16 nm

EDX 立体角 0.9 srad

TEM 信息分辨率 0.12 nm

最大衍射角度 24 ?

双倾样品杆的最大倾斜角度 ±35° α 倾角 /±30° β 倾角

样品台最大倾斜角度 ±90 ?